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深圳市计量质量检测研究院举办电子产品可靠性测试研讨会

放大字体  缩小字体    发布日期:2007-10-20  来源:中国计量网  浏览次数:224
核心提示:4月26日至27日,深圳市计量质量检测研究院联合美国QUANTA测试公司举办了“电子产品可靠性测试”研讨会,来自微软亚洲、富士康、华为、中兴、TCL、迈瑞等知名企业的100多名电子电器行业企业代表参加了研讨会。    研讨会邀请了美国QUANTA测试公司总裁
4月26日至27日,深圳市计量质量检测研究院联合美国QUANTA测试公司举办了“电子产品可靠性测试”研讨会,来自微软亚洲、富士康、华为、中兴、TCL、迈瑞等知名企业的100多名电子电器行业企业代表参加了研讨会。

    研讨会邀请了美国QUANTA测试公司总裁、可靠性测试方面的权威刘杭生博士作为主讲,刘博士针就环境测试的制定标准、环境测试的收益、内部测试实验室的优缺点及降低费用的方法、可靠性测试方法等内容做了详尽的讲解。会上,专家作了现场解答疑,并与企业代表进行良好的互动沟通,现场气氛十分热烈。参会代表纷纷表示,举办这样的研讨会意义重大,不仅为企业提供一些改进质量的方法,提升企业质量管理水平,也为电子行业创造一个交流新资讯的平台,希望能够多举办一些类似的活动。
 
 
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